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光致發光量子效率測量系統

光致發光量子效率測量系統

産品型號:

所属分类:光致發光量子效率測量系統

更新時間:2020-03-05

简要描述:CME-PL光致發光量子效率測量系統是一种紧凑,操作便捷,可在手套箱内完成搭建,无需将样品取出 。该产品是一个系统解决方案,包括單色可調光源、光譜儀、積分球、光纖和计算机。 专用软件使操作变得简单。可用于容纳液体样品的薄膜,粉末和比色皿。系统适用有机金属复合物、荧光探针、染料敏化型PV材料、OLED材料、LED荧光粉等领域。

詳細說明:

             光致發光量子效率測量系統 CME-PL

CME-PL光致發光量子效率測量系統是一种紧凑,操作便捷,可在手套箱内完成搭建,无需将样品取出 。该产品是一个系统解决方案,包括單色可調光源、光譜儀、積分球、光纖和计算机。 专用软件使操作变得简单。可用于容纳液体样品的薄膜,粉末和比色皿。系统适用有机金属复合物、荧光探针、染料敏化型PV材料、OLED材料、LED荧光粉等领域。

主要特點:

l適用于粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率;

l光譜儀系統采用制冷型CCD信噪比高、雜散光低;

l激發光源采用光柵搭配濾光鏡分光,可任意選擇波長;

l體積小巧:便于靈活使用及運輸;

l堅固、緊湊的設計,可以***限度減少實驗室空間;

l專業軟件,操作簡單;

l光致發光量子效率、熒光材料發光發光測量(量子效率X吸收)、量子效率和激發波長的關系(-02G,-03G)、光致發光譜(峰值波長,FWHM)、光致發光激發譜(-02G,-03G)、色彩測定(色度、色溫、顯色指數等)。

 

技術參數

單色可調光源

型號

CME-TLSX300F

功率

300W

光譜範圍

300-1100nm

焦距

150mm

分辨率

0.3nm

帶寬

0.3-22nm

光譜儀

型號

CME-QE2000(可選)

光譜範圍(nm)

300-1100nm

光譜儀分光元件

全息成像光柵

感光元件

電子冷卻型CCD影像感測器

信噪比

1000:01:00

分辨率

2.5nm(FWHM)

積分球

尺寸

100mm

塗層材質

Sperctralon

光纖

芯徑

800um

 

 

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光致發光量子效率測量系統 CME-PL

 



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